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立式PCT老化试验箱

简要描述:

立式PCT老化试验箱
本产品采用圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象;圆幅内胆,不锈钢圆弧型内胆设计,可避免蒸气过热直接冲击;水管采用铜管+喇叭口,精密设计,气密性良好,耗水量少。

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立式PCT老化试验箱

立式老化试验箱  设备特点
     ★ 圆型内箱,不锈钢圆型试验内箱结构,符合工业安全容器标准,可予防试验中结露滴水现象。
     ★ 圆幅内胆,不锈钢圆弧型内胆设计,可避免蒸气过热直接冲击。
     ★ 水管采用铜管+喇叭口,精密设计,气密性良好,耗水量少。
     ★ 专用型packing ,材质:耐高温夕胶发泡成型,内箱压力愈大时,packing会有反压会使其与箱体更紧密结合,与传统挤压式完全不同,可延长packing寿命。
    ★ 实验开始前可将原来内箱之空气抽出,并吸入过滤器,过滤之新空气packing<1micom,以确保箱内之纯净度。
    ★ 临界点LIMIT方式自动安全保护,异常原因与故障提示。
    ★ 机台具有定时干燥功能 , 使试验产品处于干燥状态。
    ★ 水箱采用16L大容量水箱,置于箱体底部,采用自动补水功能;试验不终断 ;试验结束时设备会自动泻除压力。

立式老化试验箱   应用范围

        PCT高压加速老化试验机主要是测试半导体封装之湿气能力,待测产品被置于严苛之温度、湿度及压力下测试,湿气会沿者胶体或胶体与导线架之接口渗入封装体,常见之故障方式为主动金属化区域腐蚀造成之断路,或封装体引脚间因污染造成短路等。广泛应用于线路板,多层线路板,IC,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。加速老化寿命试验的目的是提高环境应力(如:温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等),加快试验过程,缩短产品或系统的寿命试验时间。

立式老化试验箱    技术参数:
     
型 号 PCT-250 PCT-350PCT-450 PCT-550

     内箱尺寸(cm)Φ25×D35 Φ30×D45 Φ40×D55 Φ50×D60

     外箱尺寸(cm)W56×H65×D105 W66×H105×D125 W76×H115×D135                                       W860×H135×D145

 

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